Ausstattung
Messtechnik von DC bis 50 GHz
Die meisten Hauptsysteme sind doppelt vorhanden – so reagieren wir schnell auf Störungen oder geänderte Stückzahlen. Reicht die eigene Kapazität nicht, greifen wir auf Kooperationspartner zurück.
Automatische Testsysteme
Von Beginn an setzt Hitest auf Systeme von Verigy (vormals Agilent/Hewlett Packard) – genau und gut bedienbar.
| System | Kanäle / Datenrate | Merkmale |
|---|---|---|
| Agilent 93000 | 144 · 500 MHz | Mixed Signal, Testkopf mit Manipulator |
| HP83000 F330t | 160 · 330 MHz | Mixed Signal, Testkopf mit Manipulator |
| HP83000 F330t | 128 · 330 MHz | Testkopf mit Manipulator |
| HP83000 F330t | 96 · 330 MHz | Mixed Signal, Testkopf mit Manipulator |
| HP83000 F660i | 256 · 660 MHz | ±50 ps Genauigkeit |
| HP83000 F660i | 256 · 660 MHz | ±50 ps Genauigkeit |
| E8400 VXI Mainframe | konfigurierbar | Steuerung projektspezifischer Testaufbauten |
| Hitest Minitester | transportabel | Automatischer Test bei Bestrahlungen |
Prober und Handler
| Typ | Bereich | Hersteller |
|---|---|---|
| Waferprober | 3"–8" · 0 bis 150 °C | Wentworth, KLA, TSK |
| Handler | 5×5–28×28 mm · −40 bis 200 °C | Advantest (Pick & Place), Multitest, Microhandling (Gravity) – QFN, BGA, QFP, LCC, DIL, SO, TSOP |
Qualifikationssysteme
Qualifikation und Charakterisierung nach normierten Verfahren – oder nach Ihrer eigenen Vorschrift.
MIL-STD-883MIL-STD-750ESCCAEC-QJEDECNASA-STDDIN · ISO
Inspektion & Analyse
- Lichtmikroskope, digitales Mikroskop
- 2D- und 3D-Röntgensysteme
- Rasterelektronenmikroskop mit EDX
Klima & Lebensdauer
- Temperature-Forcing-Systeme
- Temperatur-/Feuchtigkeitskammern
- LTOL/HTOL-Kammern mit und ohne Stickstoff
- Operativer Burn In, Pressure Cooker
- Öfen für Hochtemperaturlagerung
Thermisch & mechanisch
- Thermoschock Liquid/Liquid
- Temperaturwechsel Luft/Luft
- Shaker für Schock, Vibration, Bump – mit und ohne Klimakammer
Bestrahlung
- Co60-Quellen
- Linearbeschleuniger
Hochfrequenz-Messtechnik
In Kombination mit unseren automatischen Testsystemen bieten wir Serientests von Wafern und Komponenten bis 50 GHz. Genauso wichtig wie das Equipment: die Erfahrung unserer Ingenieure aus vielen komplexen Projekten.
| Gerät | Bereich |
|---|---|
| Network Analyzer | bis 50 GHz |
| Sampling Oscilloscopes | bis 50 GHz |
| Microwave Frequency Counter | bis 46 GHz |
| Microwave Transition Analyzer | DC bis 40 GHz |
| Spectrum Analyzer | bis 26,5 GHz |
| Modulation Analyzer | bis 26,5 GHz |
| Pattern Generator/Analyzer | bis 10 Gbps |
| Vector Signal Generator | bis 5,4 GHz |
| Vector Signal Analyzer (VSA) | bis 2,6 GHz |
Passt Ihr Bauteil auf unsere Systeme?
Schicken Sie uns Gehäuse, Pinzahl und Frequenzbereich – wir prüfen es kurzfristig.