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Testhaus · Hannover · seit 1989

Unabhängiges Testhaus für Mikro­elektronik

Qualifikation, Serientest und Fehleranalyse elektronischer Bauteile – bis 50 GHz, für Raumfahrt, Automotive, Medizintechnik und Industrie.

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Automatisches Testsystem mit Testkopf im Hitest-Labor

Hitest in Zahlen

bis 50 GHz
Hochfrequenz im Serientest – Wafer und Komponenten
−195 bis +300 °C
Testtemperaturbereich für Qualifikation und Analyse
5–10 Jahre
identische Testwiederholung für Rückläufer
seit 1989
Erfahrung in der Prüfung elektronischer Bauteile

ISO 9001:2015 (TÜV Nord) · DLR-gelistetes Testhaus · Normen: MIL-STD · ESCC · NASA-STD · JEDEC · AEC-Q

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